Исследователи разработали метод, позволяющий наблюдать за процессами, происходящими внутри действующего микропроцессора.

Исследователи из Университета Аделаиды, расположенного в Австралии, разработали инновационный метод мониторинга активности транзисторов в микросхемах, используя терагерцовое излучение.

Принцип действия разработанной технологии основан на следующем: сначала лабораторная установка генерирует микроволновый сигнал точных характеристик. Затем, посредством частотного удвоителя, этот сигнал преобразуется в терагерцовую волну, которая направляется на исследуемую микросхему. Когда чип находится в активном состоянии и осуществляет вычисления, переключение его транзисторов находит отражение в измененном сигнале, возвращающемся на приемник. Этот отраженный сигнал затем сопоставляется с первоначальным, что позволяет выявлять мельчайшие сдвиги в амплитуде и фазе. Благодаря этому становится возможным мониторинг функционирования процессора в режиме реального времени.

Существенным достижением является то, что исследователям впервые удалось зафиксировать внутренние процессы, протекающие в чипе во время его активной работы, а не после процесса выключения. Авторы исследования утверждают, что это открывает новые перспективы для диагностики и тестирования микросхем, что ранее было затруднительно достичь подобными методами.

Тем не менее, данная технология еще не готова к повсеместному внедрению. Возникают сложности при работе со сложными многослойными чипами и трехмерными структурами, поскольку терагерцовое излучение не всегда позволяет однозначно определить источник сигнала в конкретном слое. Кроме того, эксперты подчеркивают потенциальные угрозы безопасности: в будущем подобных метод может быть использован для несанкционированного извлечения данных непосредственно в процессе работы процессора.