В Китае создали флеш-память, способную хранить информацию, используя всего один электрон.

Исследователи из Фуданьского университета в Китае разработали прототип флеш-памяти нового поколения. Главное отличие этой технологии — способность сохранять данные, используя всего один электрон. В случае успешного внедрения, это может привести к значительному снижению энергопотребления электронных устройств.

Современные чипы памяти для надежного хранения одного бита данных используют примерно 200 000 электронов. Такой резерв необходим для защиты информации от случайных сбоев и потери данных.

Китайские ученые предложили совершенно иной метод. Они сконструировали двухмерную структуру из графена, которая способна удерживать одиночный электрон и одновременно существенно увеличивать его электрический сигнал. В ходе экспериментов сигнал достигал амплитуды около 0.5 В, что на порядок превосходит показатели большинства альтернативных экспериментальных решений, где обычно фиксируются лишь десятки милливольт.

Разработка получила название Guiyi, что в переводе означает «Возвращение к одному». Авторы проекта черпали вдохновение в буддийской притче о горчичном зерне, способном вместить целую гору, чтобы проиллюстрировать концепцию хранения значительных объемов информации с использованием минимальных физических ресурсов.

Руководитель исследования, профессор микроэлектроники Чжоу Пэн, планирует в этом году основать компанию для коммерциализации новой разработки. По его прогнозам, первые устройства с использованием данной памяти появятся на рынке ориентировочно через пять лет.

Этот проект является развитием предыдущих работ команды. В 2025 году команда представила энергонезависимую память PoX, а затем разработала платформу Changying, позволяющую интегрировать двумерные компоненты памяти с традиционными кремниевыми чипами.

На данном этапе Guiyi является исключительно лабораторным образцом. Для ее внедрения в массовое производство необходимо решить ряд важных задач, включая разработку методов массового производства таких чипов и подтверждение их надежности в течение длительного времени в реальных условиях эксплуатации.